미시세계를 이해하기 위한 물리학자들의 노력은 끊임없이 지속되어 왔고 이제 우리는 투과전자현미경을 통해 원자 하나하나를 직접 볼 수 있는 기술 수준에 도달하였습니다. 또한 소자가 작동되는 환경에서 구조적 변화를 관측할 수 있는 In-operando XRD 분석법 등 점차 확장된 방향으로 분석 기술 수준이 지속적으로 발전해 왔습니다. 한국과학기술연구원(KIST)의 특성분석·데이터센터는 이러한 분석 기술 발전에 기여하기 위해 다양한 첨단 분석장비를 활용한 분석 및 새로운 첨단 분석법 개발을 목표로 연구를 수행하고 있습니다. 본 특집호에서는 한국과학기술연구원(KIST)의 특성분석·데이터센터에서 분석 및 개발 중인 광전자분광법/역광전자분광법, X선 회절, 투과전자현미경, 기계학습 등 각각의 첨단 분석방법들을 기초이론부터 응용/활용까지 살펴보았습니다. 본 특집호를 통해 많은 국내 연구자들과 함께 연구할 수 있는 기회가 되기를 희망하며, 더 나아가 현재의 분석기술의 수준을 일반 대중들이 폭넓게 이해할 수 있는 계기가 되었으면 합니다. 이러한 우리들의 노력은 미래의 분석 기술의 발전과 물리연구에서 우리의 지식수준을 지속적으로 확장시킬 것입니다. 이를 통해 우리의 물리학적 사고의 틀을 더욱 크게 만들어 줄 수 있기를 기대합니다.

[책임편집위원 한국과학기술연구원 선임연구원 / UST 나노융합전공 부교수 박수형 (soohyung.park@kist.re.kr)]